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BRUKER熒光光譜儀
名稱:  BRUKER熒光光譜儀
型號(hào):  M1 MISTRAL
品牌:  BRUKER
產(chǎn)地:  德國(guó)
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發(fā)布時(shí)間:  2023-03-30
瀏覽次數(shù):  869
產(chǎn)品詳情

作為一家高性能科學(xué)儀器和分析與診斷解決方案的開發(fā)商、制造商和經(jīng)銷商,BRUKER布魯克的高性能科技儀器以及高價(jià)值分析和診斷解決方案,讓科學(xué)家能夠在分子、細(xì)胞和微觀層面上探索生命和材料的奧秘。BRUKER的許多產(chǎn)品用于檢測(cè)、測(cè)量和可視化化學(xué)、生物和工業(yè)材料樣品的結(jié)構(gòu)特征。布魯克的產(chǎn)品和解決方案可以滿足生命科學(xué)研究、制藥、生物技術(shù)、應(yīng)用市場(chǎng)、細(xì)胞生物學(xué)、臨床研究、微生物學(xué)、體外診斷、納米技術(shù)和材料科學(xué)研究等領(lǐng)域不同客戶快速發(fā)展的需求。深圳市華聯(lián)歐國(guó)際貿(mào)易有限公司是國(guó)內(nèi)專注歐美備件的知名經(jīng)銷商,產(chǎn)品都是全新原裝,絕不以次充好,下面就是我們關(guān)于德國(guó)布魯克BRUKER熒光光譜儀M1 MISTRAL的介紹,我們的產(chǎn)品貨期快,報(bào)價(jià)快速,型號(hào)齊全,價(jià)格合理,歡迎您訂購(gòu)!

?德國(guó)布魯克BRUKER熒光光譜儀,用于元素分析的獨(dú)特的微區(qū)X射線熒光光譜儀。
微區(qū)X射線熒光光譜儀是非均勻或形狀不規(guī)則的樣品以及小樣品甚至內(nèi)含物元素分析的首選方法。
M1 MISTRAL是一種緊湊型多功能臺(tái)式能量色散微區(qū)XRF光譜儀。M1 MISTRAL易于操作,設(shè)計(jì)用于在工業(yè)環(huán)境中快速、經(jīng)濟(jì)高效的操作,提供有關(guān)貴金屬合金等材料元素成分和鍍層厚度以及多層鍍層的準(zhǔn)確信息。
根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)B568和歐洲標(biāo)準(zhǔn)ISO 3497對(duì)塊體和鍍層進(jìn)行分析。通過Rh靶材對(duì)化學(xué)沉積磷鎳(NIP)鍍層進(jìn)行分析,可實(shí)現(xiàn)高精度。
所有珠寶合金、鉑族金屬或銀的精確成分可以在一分鐘內(nèi)確定。結(jié)果可以以重量百分比或克拉表示。
分析可以進(jìn)行無(wú)標(biāo)方法或基于標(biāo)樣的模型,以達(dá)到更高的精度。
從定位示例到在報(bào)表中打印結(jié)果-整個(gè)工作流程都可在軟件中實(shí)現(xiàn)。同時(shí),通過開放訪問原始數(shù)據(jù),保證了數(shù)據(jù)的可重現(xiàn)性。

德國(guó)布魯克BRUKER熒光光譜儀亮點(diǎn)
①最小點(diǎn)大小,甚至可以對(duì)電路板上的精細(xì)鍍層分析
②用于分析多層鍍層,根據(jù)ASTM B568和ISO 3497對(duì)層厚和成分進(jìn)行具有挑戰(zhàn)性的分析;包括具有重復(fù)元素的鍍層;可編程多點(diǎn)分析
③聚合物中的Cu、Zn或Zn中的Pb的檢測(cè)極限
④RoHS篩選,分析焊料、塑料、金屬合金中的微量元素;對(duì)材料厚度進(jìn)行自動(dòng)校正,對(duì)PCB組件進(jìn)行精確測(cè)量點(diǎn)定位

德國(guó)布魯克BRUKER熒光光譜儀關(guān)鍵因素
①靈活
②易于操作
③用戶友好的觸摸屏界面
④允許訪問原始數(shù)據(jù)

德國(guó)布魯克BRUKER熒光光譜儀M1 MISTRAL的優(yōu)勢(shì)
可以無(wú)破壞性地測(cè)量各種元素。無(wú)需樣品制備。即使是復(fù)雜的分析任務(wù)也可以在可編程XYZ階段實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,只需單擊鼠標(biāo)即可開始。超快檢測(cè)系統(tǒng)提供快速結(jié)果。
M1 MISTRAL配有大面積硅漂移探測(cè)器(SDD),具有卓越的計(jì)數(shù)速率性能和能量分辨率,可將檢測(cè)限制降低至ppm級(jí)別。高性能檢測(cè)器、數(shù)字脈沖處理和優(yōu)化的幾何條件可產(chǎn)生高效的X射線檢測(cè),從而快速準(zhǔn)確地獲得分析結(jié)果。
M1 MISTRAL的易于使用且免維護(hù)的設(shè)計(jì)以及功能強(qiáng)大的分析軟件套件允許操作,即使只有接受過簡(jiǎn)短培訓(xùn)的人員也能夠操作。無(wú)需消耗品或氣體。堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)確保了最高的穩(wěn)定性和免維護(hù)的操作。
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德國(guó)布魯克BRUKER熒光光譜儀極大的靈活性和廣泛的應(yīng)用
金屬鍍層通過為各種產(chǎn)品提供增強(qiáng)的表面性能,對(duì)許多工業(yè)部門至關(guān)重要。金屬鍍層一般擁有耐用、耐腐蝕的特點(diǎn),能夠保護(hù)基體材料,并最大限度地減少金屬制品的磨損。鍍層成分和厚度的質(zhì)量控制對(duì)于確保正確的鍍層性能和耐久性至關(guān)重要。多工業(yè)部門至關(guān)重要。

金屬鍍層一般擁有耐用、耐腐蝕的特點(diǎn),能夠保護(hù)基體材料,并最大限度地減少金屬制品的磨損。鍍層成分和厚度的質(zhì)量控制對(duì)于確保正確的鍍層性能和耐久性至關(guān)重要。
化學(xué)鍍鎳(ENP)是一種自動(dòng)催化化學(xué)工藝,是在基材上沉積一層鎳磷(Ni-P)合金鍍層。鎳磷鍍層的主要優(yōu)點(diǎn)之一是它能提供非常均勻的厚度,不依賴于零件的幾何形狀?;瘜W(xué)鍍鎳可以覆蓋所有隱藏的表面,即使在最復(fù)雜的零件上也提供完整的涂層覆蓋。

隨著電子設(shè)備的日益增多,電子垃圾的產(chǎn)生速度也比以往任何時(shí)候都快。近年來,歐盟和其他國(guó)家制定了多項(xiàng)法規(guī),以促進(jìn)電子垃圾的回收利用,并減少與電子垃圾生產(chǎn)增加相關(guān)的健康和環(huán)境風(fēng)險(xiǎn)。

德國(guó)布魯克BRUKER熒光光譜儀技術(shù)細(xì)節(jié)
①激發(fā)源:W靶或Rh靶的高性能微聚焦光管
②探測(cè)器:Peltier冷卻,30 mm2高性能硅漂移探測(cè)器,小于150 eV能量分辨率,在Mn Ka
③多種元素:默認(rèn)值:從Ti(Z=22)W靶;可選:從Al(Z=13)Rh靶
④光斑大?。?.1 mm至1.5 mm的準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
⑤最大樣本大小和重量:48 x 49 x 20 cm3;高達(dá)1.8 Kg
⑥樣品臺(tái)最大行駛范圍:高達(dá)200 mm x 175 mm x 80 mm(用于帶自動(dòng)對(duì)焦和Easy Load功能的電動(dòng)XYZ樣品臺(tái))
⑦儀器尺寸(W x D x H):550 mm x 680 mm x 430 mm

德國(guó)布魯克BRUKER熒光光譜儀XSpect Pro分析軟件套件
①儀器控制、數(shù)據(jù)采集和管理
②用戶可選觸摸屏界面
③樣品臺(tái)控制和編程
④金屬多層鍍層厚度分析
⑤定量成分分析、無(wú)標(biāo)準(zhǔn)和基于標(biāo)準(zhǔn)的經(jīng)驗(yàn)?zāi)P?br /> ⑥具有自動(dòng)峰值識(shí)別的譜線查看功能
⑦統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)趨勢(shì)線和數(shù)據(jù)
⑧報(bào)告生成器
⑨結(jié)果存檔

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